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[供應]SGC-10薄膜測厚儀

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產(chǎn)品產(chǎn)地：山東省臨沂市經(jīng)濟開發(fā)區(qū)
產(chǎn)品品牌：摩爾儀器
包裝規(guī)格：SGC-10
產(chǎn)品數(shù)量：0
計量單位：個
產(chǎn)品單價：0
更新日期：2016-08-31 09:14:14
有效期至：2016-10-01
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SGC-10薄膜測厚儀詳細信息

SGC-10薄膜測厚儀，適用于介質(zhì)，半導體，薄膜濾光片和液晶等薄膜和涂層的厚度測量。該薄膜測厚儀，是我公司與美國new-span公司合作研制的，采用new-span公司先進的薄膜測厚技術，基于白光干涉的原理來測定薄膜的厚度和光學常數(shù)（折射率n，消光系數(shù)k）。通過分析薄膜表面的反射光和薄膜與基底界面的反射光相干形成的反射譜，用軟件來擬合運算，得到單層或多層膜系各層的厚度d，折射率n，消光系數(shù)k。該設備關鍵部件均為國外進口，也可根據(jù)客戶需要整機進口。更多產(chǎn)品請登錄：moer17

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